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Chroma gibt neueste Halbleiter-Testlösung heraus

Chroma ATE Inc., ein weltweit
führender Lieferant von Präzisionsprüf- und Messgeräten,
automatisierten Testsystemen, intelligenten Fertigungssystemen sowie
schlüsselfertigen Prüf- und Automationslösungen hat vor kurzem die
neueste Halbleiter-Testlösung für den IoT-IC-Markt herausgegeben.

Die dieses Jahr neu entwickelte digitale I/O-Karte Chroma 33010
PXIe bietet basierend auf der PXI-Architektur automatische
Prüffunktionen, die herausragend für die hohen Anforderungen bei
PXI-Prüfungen geeignet sind. Um kleineren IC-Kanälen und den immer
komplexeren Prüffunktionen insbesondere für ICs im Bereich IoT und
Automobilelektronik gerecht zu werden, bietet die
PXI-/PXIe-Architektur in Halbleiterprüfungen unübertroffene Vorteile
in Bezug auf Vielseitigkeit und Flexibilität, wie unter anderen MCU-,
MEMS-, RF-IC- und PMIC-Prüfungen. Sie kann auch zum Zweck einer
Massenproduktion in das Prüfsystem Chroma 3380D (256 Kanäle) und
Chroma 3380P (512 Kanäle) portiert werden, da große Ähnlichkeiten bei
Software wie auch Hardware bestehen.

Der Dreitemperatur-SLT-Handler Chroma 3260 ist mit einer
DTC-Funktion (Dynamic Temperature Control) ausgestattet wobei durch
die Verwendung der führenden Nitro TEC-Technologie ein noch breiterer
Temperaturleistungsbereich von -40 °C bis 125 °C und eine
Regelgenauigkeit von +/- 1 °C ermöglicht wird. Er kann für
Parallelprüfungen auf mehreren Modulplatinen verwendet werden und die
integrierten Prüfsockel können verschiedene Pakettypen aufnehmen
(QFP, TQFP, MuBGA, PGA und CSP). Der Chroma 3260 (Dreitemp.) kann
durch den Austausch von Wechsel-Kits schnell für verschiedene
Prüflinge bzw. DUTs (DUT, engl. für Device Under Test) umgerüstet
werden um Stillstandszeiten zu reduzieren und die Effizienz zu
erhöhen. Zu den Anwendungen zählen IC-Komponenten für das IoV
(Internet of Vehicle) und die Cloud-Computing-Branche.

Der Chroma 3111 Handler als Tischgerät mit einem IC-Prüfplatz ist
für Systemfunktionsprüfungen insbesondere in der experimentellen
Engineering-Phase entwickelt worden. Er verfügt über Prüffunktionen
für elektrische Anschlüsse und ist für verpackte Wafer-Größen von 5 x
5 mm bis 45 x 45 mm geeignet. Der Chroma 3111 ist aufgrund seiner
kleinen Größe (Stellplatz von 60 cm2) die beste Wahl um bei
Engineering-Prüfungen effektiv den Zeitaufwand und die Kosten zu
reduzieren.

Die Halbleiter-Prüflösung von Chroma bietet auch eine Reihe von
Softwarepakete für verschiedene Prüfanwendungen.

Pressekontakt:
zu diesem Produkt:
CHROMA ATE DEUTSCHLAND, Tel.: +49 821 790967 0
CHROMA ATE EUROPA B.V., Tel.: +31 318 648282
CHROMA ATE INC. (GESCHÄFTSSITZ), Tel.: +886 3 3279999
CHROMA ATE, INC. (USA), Tel.: +1 949 421 0355; gebührenfrei +1 800 478
2026
CHROMA JAPAN CORP, Tel.: +81 45 542 1118
CHROMA ELECTRONICS (SHANGHAI) CO., LTD., Tel.: +86 21 6495 9900
CHROMA ATE (SUZHOU) CO., LTD., Tel.: +86 512 6824 5425
QUANTEL PTE LTD., Tel.: +65 6745 3200
info@chromaate.com
www.chromaate.com.
Logo – http://mma.prnewswire.com/media/481719/CHROMA_Logo.jpg

Original-Content von: Chroma ATE Inc., übermittelt durch news aktuell

Posted by on 3. Mai 2017. Filed under Computer & Technik,Internet. You can follow any responses to this entry through the RSS 2.0. You can leave a response or trackback to this entry

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