National Instruments erweitert SC-Express-Plattform um neues PXIe-RTD-Modul

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– Widerstandstemperaturmodul (Resistance Temperature Detector, RTD) erweitert Messfunktionen um hochpräzise Temperaturmessungen.
– Anwender können das RTD-Modul NI PXIe-4357 mit der Produktfamilie NI SC Express, der Plattform NI PXI und dem NI LabVIEW Real-Time Module nutzen, um zuverlässige Sensormesssysteme zu erstellen, mit denen zahlreiche Kanäle skaliert werden können.
– Die Produktfamilie NI SC Express vereint die Möglichkeiten zur D

Unabhängiger Test bestätigt: LoadMaster von KEMP Technologies unterstützen IPv6 mit hohen Durchsatzraten bis Layer 7

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Eines der führenden Institute für den Test von IT-Komponenten, Broadband Testing, verifizierte den LoadMaster 3600 von KEMP Technologies, ( http://www.kemptechnologies.com ) im Hinblick auf seine Leistungsfähigkeit bis Layer 7. Unternehmen können zu IPv6 migrieren, ohne Einschränkungen oder Risiken bei der Performance in Kauf nehmen zu müssen. Dies belegen die Testreihen von Broadband Testing. Load Balancer von KEMP garantieren einen hohen Durchsatz von knapp unter

NI weitet führende Position bei PXI-Produkten mit neuem Chassis für höhere Systembetriebszeit aus

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– Das Chassis NI PXIe-1066DC baut auf der höheren Systemlebensdauer und -flexibilität der PXI-Produkte auf, wodurch es sich besonders für ablaufkritische Anwendungen und für den Serieneinsatz eignet.
– Mit dem neuen Chassis verfügt die PXI-Plattform von NI jetzt über redundante Funktionen, Hot-Swap-Fähigkeit und frontseitigen Zugang, wodurch sich die Systembetriebszeit erheblich erhöht.
National Instruments stellt sein neues Chas

National Instruments stellt neue PXI-Schaltmodule mit Solid-State-Architektur vor

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– Die Solid-State-Schaltmodule NI PXI-2543 und NI PXIe-2543 bieten höhere Schaltgeschwindigkeiten und eine unbegrenzte mechanische Lebensdauer für das Routen von RF-Signalen bis zu 6,6 GHz.
– Die Schaltmodule erhöhen den Prüfdurchsatz und ermöglichen die langfristige Wiederholbarkeit von Messungen bei vielen RF-Produktionsprüfungen mit hohen Stückzahlen, darunter der Test von Halbleitern und mobilen Geräten.
– Zudem wird mit den

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